溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測(cè)試通道4
載樣臺(tái)材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實(shí)際尺寸為準(zhǔn))
冷熱臺(tái)尺寸160*150*29mm(以實(shí)際尺寸為準(zhǔn))
實(shí)驗(yàn)環(huán)境可抽真空,可充入保護(hù)氣氛(氮?dú)猓渌浣涌?/span>
探針座位移平臺(tái)是一種用于半導(dǎo)體、電子元件以及微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)等領(lǐng)域的精密測(cè)試和測(cè)量設(shè)備。它的主要功能是通過移動(dòng)探針在樣品表面進(jìn)行高精度的接觸和測(cè)試。以下是探針座位移平臺(tái)的一些關(guān)鍵特性和功能:
1. **高精度定位**:探針座位移平臺(tái)通常配備高分辨率的定位系統(tǒng),可以實(shí)現(xiàn)微米級(jí)甚至納米級(jí)的位移控制。
2. **多軸運(yùn)動(dòng)**:大多數(shù)探針座位移平臺(tái)支持多軸運(yùn)動(dòng)(如X、Y、Z軸),以便在三維空間中靈活移動(dòng)探針,實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)。
3. **實(shí)時(shí)控制**:現(xiàn)代探針座位移平臺(tái)通常與計(jì)算機(jī)軟件相結(jié)合,可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)的控制和數(shù)據(jù)采集,方便操作人員進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和調(diào)整。
4. **穩(wěn)定性**:平臺(tái)的設(shè)計(jì)通常考慮到振動(dòng)和熱變形等因素,以確保在長時(shí)間操作中的穩(wěn)定性和重復(fù)性。
5. **自動(dòng)化能力**:許多探針座位移平臺(tái)支持自動(dòng)化操作,可以與自動(dòng)測(cè)試設(shè)備結(jié)合,進(jìn)行批量測(cè)試。
6. **應(yīng)用廣泛**:探針座位移平臺(tái)廣泛應(yīng)用于電氣測(cè)試、失效分析、材料特性評(píng)估等領(lǐng)域,能夠有效提高測(cè)量效率和準(zhǔn)確性。
在選擇探針座位移平臺(tái)時(shí),用戶需要考慮其技術(shù)參數(shù)、使用場(chǎng)景以及與現(xiàn)有設(shè)備的兼容性等因素。
高低溫真空探針臺(tái)是一種用于材料和半導(dǎo)體器件測(cè)試的精密設(shè)備,其特點(diǎn)包括:
1. **溫度范圍廣**:能夠在極低溫(例如液氮溫度)到高溫(例如700℃以上)之間進(jìn)行測(cè)試,適用于不同材料和器件的特性分析。
2. **真空環(huán)境**:提供高真空或真空環(huán)境,減少氧化和污染,提高測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
3. **高精度探針**:配備高精度的探針,可以對(duì)微小區(qū)域進(jìn)行測(cè)量,適用于微電子器件和納米材料的測(cè)試。
4. **自動(dòng)化設(shè)置**:許多高低溫真空探針臺(tái)配備自動(dòng)化控制系統(tǒng),可以實(shí)現(xiàn)溫度和壓力的準(zhǔn)確控制,提高測(cè)試效率。
5. **多功能性**:支持多種測(cè)試方法,如電學(xué)測(cè)試、熱學(xué)測(cè)試、光學(xué)測(cè)試等,適用于不同類型的材料和器件。
6. **良好的熱管理**:采用的熱傳導(dǎo)和絕熱技術(shù),確保在高低溫環(huán)境中設(shè)備的穩(wěn)定性和測(cè)試的可靠性。
7. **數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)**:配備的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng),能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控和記錄測(cè)試數(shù)據(jù),方便后續(xù)分析。
8. **模組化設(shè)計(jì)**:很多探針臺(tái)采用模組化設(shè)計(jì),用戶可以根據(jù)需要更換不同的探針或附件,提高設(shè)備的靈活性。
這些特點(diǎn)使得高低溫真空探針臺(tái)在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研發(fā)及微電子器件測(cè)試等領(lǐng)域中被廣泛應(yīng)用。

探針臺(tái)(Probe Station)是一種用于半導(dǎo)體和微電子測(cè)試的設(shè)備,主要用于在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中對(duì)芯片或材料進(jìn)行電學(xué)性能測(cè)試。它的主要功能包括:
1. **電氣測(cè)試**:探針臺(tái)配備有探針,可以直接接觸到芯片上的電氣接點(diǎn),進(jìn)行電性能測(cè)試,比如電流、電壓、阻抗等。
2. **溫度控制**:許多探針臺(tái)具有溫度控制功能,可以在高溫或低溫下進(jìn)行測(cè)試,以評(píng)估材料或器件在不同溫度下的特性。
3. **真空環(huán)境**:某些探針臺(tái)可以在真空環(huán)境下操作,以減少空氣對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,尤其是在某些敏感實(shí)驗(yàn)中。
4. **圖像捕捉與分析**:探針臺(tái)通常配備有顯微鏡,可以對(duì)芯片進(jìn)行觀察,幫助技術(shù)人員準(zhǔn)確定位探針和分析測(cè)試結(jié)果。
5. **自動(dòng)化測(cè)試**:一些探針臺(tái)能夠與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配合,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化操作和數(shù)據(jù)采集,提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
6. **多功能擴(kuò)展**:探針臺(tái)可以與其他設(shè)備(如信號(hào)發(fā)生器、示波器等)聯(lián)動(dòng),進(jìn)行更復(fù)雜的電氣測(cè)試和分析。
探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、電子工程等領(lǐng)域,是研究和開發(fā)新型電子元件的重要工具。

真空探針臺(tái)是一種用于微電子和材料科學(xué)領(lǐng)域的高精度測(cè)試設(shè)備,主要用于對(duì)半導(dǎo)體wafer、材料樣品的電氣特性進(jìn)行測(cè)量。其特點(diǎn)主要包括:
1. **高真空環(huán)境**:真空探針臺(tái)能夠在高真空條件下工作,減少氣體分子對(duì)測(cè)試過程的干擾,提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
2. **高精度定位**:該設(shè)備通常配備高精度的定位系統(tǒng),可以對(duì)準(zhǔn)探針與樣品的接觸點(diǎn),確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。
3. **多樣化探針選擇**:真空探針臺(tái)支持多種類型的探針,可根據(jù)不同的實(shí)驗(yàn)需求進(jìn)行更換,適應(yīng)不同的測(cè)試任務(wù)。
4. **溫度控制功能**:許多真空探針臺(tái)配備了溫度控制系統(tǒng),能夠在特定溫度下進(jìn)行測(cè)量,對(duì)于研究材料的溫度依賴特性尤為重要。
5. **高靈敏度測(cè)量**:在真空條件下,探針臺(tái)能夠進(jìn)行更高靈敏度的電氣測(cè)量,適合于低信號(hào)的測(cè)量任務(wù)。
6. **兼容性強(qiáng)**:真空探針臺(tái)通常可以與多種測(cè)試設(shè)備協(xié)同使用,如網(wǎng)絡(luò)分析儀、示波器等,滿足多種測(cè)試需求。
7. **自動(dòng)化程度**:現(xiàn)代真空探針臺(tái)往往具備自動(dòng)化控制系統(tǒng),能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦、掃描和數(shù)據(jù)采集,提高實(shí)驗(yàn)效率。
8. **適用范圍廣泛**:真空探針臺(tái)不僅可用于半導(dǎo)體行業(yè),還可廣泛應(yīng)用于材料測(cè)試、納米技術(shù)、生物傳感器等多個(gè)領(lǐng)域。
總體而言,真空探針臺(tái)是進(jìn)行精細(xì)化電氣測(cè)試的重要工具,其特性使其在科研和工業(yè)應(yīng)用中具有的地位。

探針座位移平臺(tái)是一種用于精密測(cè)試和測(cè)量的設(shè)備,常用于半導(dǎo)體、光電子和精密制造等領(lǐng)域。其主要特點(diǎn)包括:
1. **高精度**:探針座位移平臺(tái)能夠在微米甚至納米級(jí)別進(jìn)行高精度的位置控制,以確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。
2. **多軸運(yùn)動(dòng)**:許多探針座位移平臺(tái)設(shè)計(jì)為多軸系統(tǒng),能夠?qū)崿F(xiàn)X、Y、Z三個(gè)維度的立移動(dòng),以適應(yīng)復(fù)雜的測(cè)量需求。
3. **穩(wěn)定性**:平臺(tái)結(jié)構(gòu)通常經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì),以提供高度的機(jī)械穩(wěn)定性,減少外部震動(dòng)對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
4. **自動(dòng)化控制**:現(xiàn)代探針座位移平臺(tái)通常配備計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng),支持自動(dòng)化操作和數(shù)據(jù)采集,提高工作效率。
5. **兼容性強(qiáng)**:探針座可以與多種探針、傳感器和測(cè)量設(shè)備相結(jié)合,提供靈活的應(yīng)用方案。
6. **快速響應(yīng)**:的驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)使得平臺(tái)能夠快速響應(yīng)控制指令,實(shí)現(xiàn)快速定位和測(cè)量。
7. **易于操作**:許多平臺(tái)設(shè)有用戶友好的界面,使操作人員能夠輕松進(jìn)行設(shè)置和調(diào)整。
8. **可調(diào)節(jié)性**:探針座位移平臺(tái)通常允許用戶根據(jù)特定需求來調(diào)整工作參數(shù),例如探針的接觸力、移動(dòng)速度等。
這些特點(diǎn)使得探針座位移平臺(tái)在電子元器件測(cè)試、材料分析和微型裝配等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
探針夾具主要用于電子元件測(cè)試和測(cè)量,其適用范圍包括:
1. **半導(dǎo)體測(cè)試**:用于芯片、集成電路(IC)等電子元器件的電氣特性測(cè)試。
2. **電路板測(cè)試**:適用于PCB(印刷電路板)的測(cè)試,能夠幫助檢測(cè)PCB上的連接和功能。
3. **研發(fā)和實(shí)驗(yàn)**:在電子產(chǎn)品的研發(fā)階段,探針夾具可以用于快速原型測(cè)試和實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。
4. **質(zhì)量控制**:在生產(chǎn)過程中,探針夾具可用于自動(dòng)化測(cè)試以確保產(chǎn)品質(zhì)量。
5. **維修與故障排查**:在維修過程中,探針夾具可以用來快速測(cè)試疑似故障的元器件。
探針夾具的靈活性和性使其成為電子行業(yè)廣泛使用的重要工具。
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