溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數量4(可增加)
探針材質紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質及尺寸銀質,35*35mm(以實際尺寸為準)
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準)
實驗環境可抽真空,可充入保護氣氛(氮氣),配水冷接口
真空探針臺是一種用于微電子器件測試和特性分析的設備,廣泛應用于半導體研究和研發領域。它的主要功能是將探針對準被測試樣品,同時在真空環境下進行的電氣測試。
真空探針臺的工作原理是通過在高真空狀態下,將探針與芯片或其他樣品直接接觸,以測量其電氣特性。在真空環境中,能夠減少空氣干擾,降低氧化和污染的風險,從而提供更準確和重復的測試結果。
主要用途包括:
1. **半導體器件的特性測試**:如 MOSFET、二極管等。
2. **材料研究**:在材料科學中,對特定材料的電性和熱性進行研究。
3. **微納米技術的研發**:在 MEMS(微電機械系統)和納米尺度器件的開發和測試中。
真空探針臺通常配備高精度的定位系統,以確保探針能夠準確地對準待測樣品,此外,有些設備還可與其他測試儀器(如示波器、源測量單元等)集成,以實現更復雜的測試需求。
真空探針臺是一種用于微電子器件測試與研究的精密儀器,其主要功能包括:
1. **電學測試**:能夠對半導體器件進行電性能測試,如IV(電流-電壓)特性測試、CV(電容-電壓)特性測試等。
2. **高真空環境**:提供高真空或真空環境,減少氣體分子對測試結果的干擾,特別是在處理空氣敏感材料或量子特性研究時尤為重要。
3. **微觀定位**:由于其高精度的定位功能,能夠對微小結構進行接觸和掃描,適用于納米尺度設備的測試。
4. **冷熱測試**:部分真空探針臺配備溫控系統,可以在低溫或高溫條件下進行測試,以研究材料和器件在不同溫度下的特性。
5. **材料表征**:能夠對薄膜、納米材料等進行表征,分析其電學性質、表面狀態等。
6. **集成化測試**:可以與其他儀器(如掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡等)聯用,進行更深入的材料或器件分析。
總之,真空探針臺是半導體研究、材料科學等領域中的重要設備。

真空探針臺是一種用于微電子和材料科學領域的高精度測試設備,主要用于對半導體wafer、材料樣品的電氣特性進行測量。其特點主要包括:
1. **高真空環境**:真空探針臺能夠在高真空條件下工作,減少氣體分子對測試過程的干擾,提高測量的準確性和重復性。
2. **高精度定位**:該設備通常配備高精度的定位系統,可以對準探針與樣品的接觸點,確保測量的準確性。
3. **多樣化探針選擇**:真空探針臺支持多種類型的探針,可根據不同的實驗需求進行更換,適應不同的測試任務。
4. **溫度控制功能**:許多真空探針臺配備了溫度控制系統,能夠在特定溫度下進行測量,對于研究材料的溫度依賴特性尤為重要。
5. **高靈敏度測量**:在真空條件下,探針臺能夠進行更高靈敏度的電氣測量,適合于低信號的測量任務。
6. **兼容性強**:真空探針臺通常可以與多種測試設備協同使用,如網絡分析儀、示波器等,滿足多種測試需求。
7. **自動化程度**:現代真空探針臺往往具備自動化控制系統,能夠實現自動對焦、掃描和數據采集,提高實驗效率。
8. **適用范圍廣泛**:真空探針臺不僅可用于半導體行業,還可廣泛應用于材料測試、納米技術、生物傳感器等多個領域。
總體而言,真空探針臺是進行精細化電氣測試的重要工具,其特性使其在科研和工業應用中具有的地位。

同軸真空饋通件是一種用于電子設備的連接器,主要用于在真空環境中傳輸信號。其特點包括:
1. **優良的信號傳輸性能**:同軸結構能夠有效地減少信號的損耗和反射,保證信號的質量。
2. **良好的屏蔽性能**:同軸設計可提供較好的電磁干擾屏蔽,防止外部干擾信號影響傳輸質量。
3. **耐高真空特性**:專門設計用于在真空環境中工作,不易受到氣體和水分的影響,適用于真空設備,如粒子加速器和真空腔等。
4. **高功率承受能力**:能夠承受較高的功率水平,適合用于高功率射頻應用。
5. **機械穩定性**:結構堅固,能夠經受一定的機械應力和溫度變化。
6. **便于安裝和維護**:設計通常考慮到易于安裝和維護,便于與其他設備連接。
7. **多種接口類型**:可根據需要提供不同類型的連接器接口,以適應應用場景。
以上這些特點使得同軸真空饋通件在通信、射頻設備及實驗物理等領域具有廣泛的應用前景。

探針臺(Probe Station)是一種用于測試和分析微電子器件(如集成電路、傳感器等)的設備。其主要特點包括:
1. **高精度定位**:探針臺能夠定位待測樣品,通常配備精密機械手臂和高分辨率的光學顯微鏡。
2. **多樣化探針**:探針臺配備多種探針,可以用于不同類型的測試,如直流、交流或測試。
3. **溫控能力**:許多探針臺具備溫度控制功能,可以在極低或極高的溫度條件下進行測試,以模擬實際工作環境。
4. **可擴展性**:探針臺通常可以與其他測試設備(如示波器、信號發生器)進行連接,實現更復雜的測試方案。
5. **軟件控制**:現代探針臺配備了計算機控制系統,可以通過軟件進行操作,實時收集和分析測試數據。
6. **兼容性**:探針臺可以處理多種尺寸和形狀的樣品,包括晶圓、芯片和其他微電子器件。
7. **環境監控**:一些探針臺具有氣候控制系統,可以在潔凈室或受控環境中進行測試,確保測試結果的可靠性。
這些特點使得探針臺在半導體開發、質量控制和研究等領域中扮演著重要角色。
探針夾具主要用于電子元件測試和測量,其適用范圍包括:
1. **半導體測試**:用于芯片、集成電路(IC)等電子元器件的電氣特性測試。
2. **電路板測試**:適用于PCB(印刷電路板)的測試,能夠幫助檢測PCB上的連接和功能。
3. **研發和實驗**:在電子產品的研發階段,探針夾具可以用于快速原型測試和實驗驗證。
4. **質量控制**:在生產過程中,探針夾具可用于自動化測試以確保產品質量。
5. **維修與故障排查**:在維修過程中,探針夾具可以用來快速測試疑似故障的元器件。
探針夾具的靈活性和性使其成為電子行業廣泛使用的重要工具。
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